中文字幕欧美日韩精品,99久久国产热无码精品免费,凹凸国产熟女精品视频app,精品国产91久久久久久一区

網(wǎng)站首頁 ＞ 產(chǎn)品展示 ＞ 無損檢測 ＞ 測厚儀 ＞ F3-sX板厚測量系統(tǒng)
板厚測量系統(tǒng)

板厚測量系統(tǒng)

產(chǎn)品型號： F3-sX

所屬分類：測厚儀

產(chǎn)品時(shí)間：2024-09-10

簡要描述：日本filmetrics板厚測量系統(tǒng)F3-sX
可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。
通過安裝最初開發(fā)的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測量高達(dá) 3 mm 的厚膜。

詳細(xì)說明：

日本filmetrics板厚測量系統(tǒng)F3-sX

 

可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。
通過安裝最初開發(fā)的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測量高達(dá) 3 mm 的厚膜。
憑借 10 μm 的小光斑直徑，可以測量粗糙和不均勻的薄膜。
通過添加自動(dòng)載物臺，可以輕松測量面內(nèi)分布。

主要特點(diǎn)

  • 高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度
  • 配備自主研發(fā)的高波長分辨率分光鏡！可測量高達(dá) 3 mm 的厚膜
  • 10 μm 的小光斑直徑可以測量粗糙和不均勻的薄膜。
  • 通過添加自動(dòng)平臺輕松測量面內(nèi)分布

日本filmetrics板厚測量系統(tǒng)F3-sX

主要應(yīng)用

半導(dǎo)體硅基板、LT基板、Ti基板等的厚度測量
平板顯示器測量玻璃基板厚度和氣隙

產(chǎn)品陣容

模型F3-s980F3-s1310F3-s1550
測量波長范圍960 – 1000nm1280 – 1340nm1520 – 1580nm

膜厚測量范圍
（Si 基板）

4 微米 – 350 微米7 微米 – 1 毫米10 微米 – 1.3 毫米
膜厚測量范圍
（玻璃基板）		10 微米 – 1 毫米15 微米 – 2 毫米25 微米 – 3 毫米
準(zhǔn)確性± 0.4% 薄膜厚度
測量光斑直徑10微米

*取決于樣品和測量條件



留言框

  • 產(chǎn)品：

  • 您的單位：

  • 您的姓名：

  • 聯(lián)系電話：

  • 常用郵箱：

  • 省份：

  • 詳細(xì)地址：

  • 補(bǔ)充說明：

  • 驗(yàn)證碼：

    請輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |