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光學非接觸式小直徑內(nèi)徑測量技術
DM-30EX / 100EX
任何人都可以立即進行高精度和高速測量
小直徑內(nèi)徑測量儀IDM是一種光學非接觸式測量儀,可以處理各種測量。
-除測量環(huán)內(nèi)徑外,還可應用于孔距、方度、錐度、方孔、狹縫。此外,由于可以測量外徑和外寬,因此也可以測量同軸度。
- 可用于客戶擁有的母帶測量儀的內(nèi)部校準。
- 可以進行最小 φ0.1 mm 到最大 Φ100 mm 的測量。
? 分辨率 0.01 μm(可選)
?.非接觸式測量不會損壞工作。
- 易于對齊,無需測量技能。
-配備溫度補償系統(tǒng),自動轉換為20°C時的測量值。